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| “TECHNART 2015—艺术及文化遗产领域的无损和显微分析技术”国际会议通知 | |
| 摘 要： | <正>本会议旨在交流和促进文化遗产领域中分析光谱技术的应用,由LNS-INFN(意大利国家核物理研究院南方实验室),IBAM-CNR(意大利考古与古建筑研究所),卡塔尼亚大学化学系与ICOM-CC科研组、AIAr(意大利科技考古协会)联合举办。会议时间:2015年4月27日至30日会议地点:在意大利卡塔尼亚意大利国家核物理研究院南方实验室(LNS-INFN)主要议题包括:X射线显微分析仪(XRF,PIXE,XRD,SEM-EDX);共聚焦显微镜(3D Micro-XRF, |
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