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| 浅谈电气测试系统的抗干扰及抑制 | |
| 引用本文： | 肖李李.浅谈电气测试系统的抗干扰及抑制[J].神州,2013(8). |
| 作者姓名： | 肖李李 |
| 作者单位： | 贵州工业职业技术学院 550008 |
| 摘 要： | 随着现代科学技术的发展,极大地推动了各学科之间的交叉与渗透.加速了各个领域内的技术革命与改造.在测试领域,由于微电子技术和计算机技术的迅速发展,为测试系统带来了前所未有的发展空间,生产方式及管理体系发生了巨大变化.本文从干扰形成的三要素入手,为提高测试系统的抗干扰能力提出了各种抗干扰的具体措施和方法. |
| 关 键 词： | 干扰源 干扰途径 电气控制测试系统 职业素养 |
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