故宫博物院藏一件景泰款掐丝珐琅器的科学分析

本工作以X射线计算机断层扫描(X-CT)成像技术为主要研究手段对故宫博物院藏一件景泰款掐丝珐琅器进行了结构工艺上的研究,结合X射线荧光光谱仪的元素分析和拉曼光谱仪的特征拉曼光谱佐证,发现此件珐琅器不同部位如口沿、耳部、颈部、腹部、底足均来自不同的器物。结果显示釉层厚度、釉料颜色、结构关系以及元素成分含量趋势之间的对应关系可互相验证并吻合,明确了此件珐琅器为后期拼配的改制器。本工作应用X-CT成像技术和X射线荧光(XRF)光谱技术对景泰款珐琅器的研究结果科学化、可视化地证实了以前专家学者靠观测得出的推论。