文物无损分析用能谱仪在上海博物馆改装成功

为完善物的无损分析检测手段，上海博物馆于1999年购置一台TN-Spectrace公司生产的QuanX型X荧光能谱仪。鉴于至今尚无成品仪器可直接用于物大样品的无损分析，上博实验室人员与公司方、国内真空机械研究机构通力合作，对仪器进行了改造。