| EDXRF无损测定琉璃构件釉主、次量元素 |
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| 引用本文： | 李合,丁银忠,段鸿莺,梁国立,苗建民. EDXRF无损测定琉璃构件釉主、次量元素[J]. 文物保护与考古科学, 2008, 20(4): 36-39 |
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| 作者姓名： | 李合 丁银忠 段鸿莺 梁国立 苗建民 |
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| 作者单位： | 故宫博物院古陶瓷检测研究实验室,北京,100009 |
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| 基金项目： | 国家"十一五"重点科技支撑项目 |
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| 摘 要： | 古代建筑琉璃构件釉层的厚度通常在130μm左右，因此难以将釉层剥离下来进行分析测试。目前，尚不见有关制备琉璃釉校准参考样品的报道，且很难找到与琉璃釉基体接近的标样进行定量分析。为此，在研制建筑琉璃校准参考样品的基础上，建立了用能量色散X射线荧光谱仪（EDXRF）无损测定琉璃釉料主、次量元素的分析方法，并对元素分析线在琉璃釉层中的饱和厚度问题，方法的检测限、精密度等问题进行了讨论。结果表明，所建立的无损测试方法可满足对琉璃釉主、次量元素测定的要求，为今后测试研究古代建筑琉璃构件釉料的元素组成特征打下基础。
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| 关 键 词： | 建筑琉璃 主次量元素 无损分析 |
Non-destructive Analysis of the Major and Minor elements in the Tile Glaze by EDXRF |
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| LI He,DING Yin-zhong,DUAN Hong-ying,HANG Guo-li,MIAO Jian-min. Non-destructive Analysis of the Major and Minor elements in the Tile Glaze by EDXRF[J]. Sciences of Conservation and Archaeology, 2008, 20(4): 36-39 |
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| Authors: | LI He DING Yin-zhong DUAN Hong-ying HANG Guo-li MIAO Jian-min |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EDXRF |
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