X射线荧光面扫描分析技术在文物保护中的应用

X射线荧光分析法由于其分析速度快、可测元素范围广、检出限低等优点被广泛应用于各个领域。X射线荧光面扫描分析技术将光学图像与元素分析完美地结合,为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。通过对文物面扫描分析可得到文物整体元素分布图,对研究文物的组成、制作工艺及辩伪有非常重要的意义。