同步辐射X射线技术在中国文物分析上的应用

同步辐射光源是一种特殊的新型光源,具有从远红外、可见光、紫外光到X射线范围内的连续光谱。鉴于高亮度、宽频谱、高偏振等优点,基于同步辐射光源的技术,尤其是X射线技术,包括X射线荧光光谱(X-ray fluorescence spectroscopy, XRF)、X射线吸收精细结构谱(X-ray absorption fine structure, XAFS)、X射线衍射谱(X-ray diffraction, XRD)和X射线断层摄影术(X-ray micro computed tomography, X-μCT)等,被广泛地应用到文物分析与保护以及考古研究等领域。主要从基于同步辐射的X射线技术在中国文物分析的角度出发,总结基于我国现有同步辐射X射线装置在相关方面的研究,并对比国外前沿研究给出展望。     

基于广域X射线荧光扫描成像技术(MA-XRF)的文物科学分析

本工作主要介绍了基于一种新型的X射线荧光分析技术——广域X射线荧光扫描成像技术(MA-XRF)的文物科学分析案例。对MA-XRF技术的发展历史做了简要的概述,结合不同类型文物的特点阐述了该方法的优势,并介绍了故宫博物院利用该方法对其文物藏品完成的多个研究案例。该研究的目的及意义在于为该新型技术在国内文物保护领域内的研究提供适用的案例介绍,指明该技术的优势所在,为今后的进一步发展和应用提供参考。     

故宫博物院藏一件景泰款掐丝珐琅器的科学分析

本工作以X射线计算机断层扫描(X-CT)成像技术为主要研究手段对故宫博物院藏一件景泰款掐丝珐琅器进行了结构工艺上的研究,结合X射线荧光光谱仪的元素分析和拉曼光谱仪的特征拉曼光谱佐证,发现此件珐琅器不同部位如口沿、耳部、颈部、腹部、底足均来自不同的器物。结果显示釉层厚度、釉料颜色、结构关系以及元素成分含量趋势之间的对应关系可互相验证并吻合,明确了此件珐琅器为后期拼配的改制器。本工作应用X-CT成像技术和X射线荧光(XRF)光谱技术对景泰款珐琅器的研究结果科学化、可视化地证实了以前专家学者靠观测得出的推论。