两件清代釉上彩瓷器残片的科技分析初探

使用三维超景深显微镜、微区X射线荧光成像光谱仪,以及手持式X射线荧光光谱仪对两片清代釉上彩瓷残片进行表面形貌特征、元素分布和化学成分科技分析,实验清楚揭示了标本的釉料、彩料成分特征,并清楚展示瓷器表面釉上色彩呈现与元素分布的直观关系,结合科技数据和绘制技艺、艺术特征可对釉上彩瓷制品进行科学细致的分类,为彩瓷制品的断代以及是否属于出土品提供依据。