| 青铜器的X-荧光不破坏分析方法研究 |
| |
| 作者姓名： | 胡金生 李道伦 魏成连 刘亚文 范饮敏 李虎侯 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国社会科学院考古研究所 北京 100710,北京 100710,北京 100710,北京 100710,北京 100710,北京 100710 |
| |
| 摘 要： | 不破坏分析法是文物保护和考古研究中最有希望的一种方法。X-荧光不破坏分析法已广泛用于多种合金的分析,但在国内把这种技术应用在古青铜的分析还不多,已发表的工作还是以放射源激发为主。由于放射源强度的限制,对小含量组分(例如含量为千分之一以下)分析还存在一定困难。X 射线管激发可进行小岔量组分的分析.但由于轫致辐射引起的高本底.影响了灵敏度的提高.采用 X-射线结合二次靶激发,通过对青铜标样的研究.以降低本底.提高方法灵敏度.并与放射源激发的结果进行了比较。
|
| 关 键 词： | X 射线荧光 不破坏分析 青铜 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《文物保护与考古科学》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《文物保护与考古科学》下载全文 |
|
