| 银纳米薄膜试片在博物馆藏展材料评估筛选中的应用 |
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| 作者姓名： | 陈晖 张敏 孔令东 陈建民 周姣妮 王升 吴来明 周新光 |
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| 作者单位： | 1. 复旦大学环境科学系,上海,200433
2. 馆藏文物保存环境国家文物局重点科研基地,上海博物馆,上海,200050 |
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| 基金项目： | 国家科技支撑计划资助,国家大学生创新性实验计划资助 |
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| 摘 要： | Oddy测试法是一种最为常用的评估材料是否适合博物馆文物储藏与展示的测试方法,其缺点在于采用活性低的块状金属试片,需要28天的测试周期,同时试片表面平整度以及人为主观因素会影响目测结果的准确性.本工作制备了银纳米薄膜试片替代Oddy测试法中块状金属试片,以半径10mm玻璃圆片为基质,银薄膜厚度约为200～220nm.实验结果表明,采用银纳米薄膜试片后,腐蚀现象在14d后可充分显现并分化,延长至28d时腐蚀现象基本无大变化,有效的缩短了测试周期.同时尝试结合数码图像采集技术,有利于进一步的腐蚀现象数据化分析研究工作,从而得到更加客观准确的测试结果.
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| 关 键 词： | 藏展材料评估筛选 银纳米薄膜试片 Oddy测试法 图像采集 |
| 收稿时间： | 2009-07-27 |
| 修稿时间： | 2009-11-30 |
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