EDXRF无损测定琉璃构件釉主、次量元素

古代建筑琉璃构件釉层的厚度通常在130μm左右,因此难以将釉层剥离下来进行分析测试。目前,尚不见有关制备琉璃釉校准参考样品的报道,且很难找到与琉璃釉基体接近的标样进行定量分析。为此,在研制建筑琉璃校准参考样品的基础上,建立了用能量色散X射线荧光谱仪（EDXRF）无损测定琉璃釉料主、次量元素的分析方法,并对元素分析线在琉璃釉层中的饱和厚度问题,方法的检测限、精密度等问题进行了讨论。结果表明,所建立的无损测试方法可满足对琉璃釉主、次量元素测定的要求,为今后测试研究古代建筑琉璃构件釉料的元素组成特征打下基础。